如何判定液晶面板是否具有“无缝衔接”的尺寸精度，高效、配置合理的检测设备能更好的对产品进行高精密尺寸把控。NVC全自动影像测量仪凭借复合式多传感器，为客户的检测难题，提供了强有力的解决方案。
影像仪解决方案——NVC系列影像测量仪，复合测量——探针测量+影像测量，有效保证液晶面板外观尺寸精准度。
1. 外壳：
解决外壳尺寸问题，就需要对外壳的内轮廓尺寸，以及定位孔尺寸进行测量，由于金属外壳的加工过程使得产品边缘有倒角，如果单纯用光学测量的话有时候造成较大的误差，目前在富士康、可成、绿点体系都在用接触的方式测量外壳和屏幕的配合尺寸，包括外壳上表面或者侧面的尺寸。直测针，用于垂直测量表面的槽和台阶；带角度的斜孔或者斜槽十字星型测针，用于侧面边槽和台阶；可以用来测量厚度，测量带螺纹的孔或者非常薄的边。
2. 2D平面尺寸测量：
1） CG、Pannel——2D尺寸，例如长度、宽度、扬声器孔和位置、摄像头孔尺寸和位置、Home键尺寸和位置、四角轮廓等等； 2） FPC——排线的线路线宽、线距；上面所有的PIN的间距和位置；任何接插连接的socket的中的针脚的位置和宽度等；FPC上很多的圆槽和定位孔的尺寸； 3） BLU和CG粘合的相对位置的确认；
这些尺寸都是2Ｄ测量里基本的要求，采用光学测量（同轴光、底光、环光）
邓工测量设备所具备的多重捕捉功能(Multi Capture)，一次性测量整个视场内的所有尺寸，直接提高三倍测量速度。
3. 曲面测量测量：
采用CWS白光测头测量，Z向精度可以达到0.3um，可以测量屏幕表面的平面度、尤其可以测量透明和高反射率材料的表面形貌。
三种传感器搭配在一台复合式影像测量设备，一次装夹，完成全尺寸测量。强大的PC-DMIS VISION 测量软件，基于3D或者2D数模的编程和对比。
CAD module 选项：具有多种格式的CAD数模的导入、编程和测量，并能够完成几何关系的计算、构造和形位公差的评价与分析，如：IGES，DWG、DXF、STEP，VDAFS，STL。
软件具有测量数据多种通用的输出格式，如：IGES、STEP，VDAFS, XAML, DMIS，DES，Excel，Generic，XYZ，可以用于逆向设计。
轮廓尺寸测量：具有2D轮廓扫描功能，可以自动巡边进行轮廓扫描，对CG和TP等的轮廓和原始DXF、DWG文件进行对比。
基于以上强大的测量功能和数据处理功能，众多玻璃厂家均采用思瑞测量复合式影像测量设备测量曲面屏，为液晶面板检测严格把关。
